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LE25U20AMB
AC Characteristics
Parameter
Symbol
min
Ratings
typ
max
unit
Clock frequency
SCK logic high level pulse width
SCK logic low level pulse width
Input signal rising/falling time
CS setup time
CS hold time
Data setup time
Data hold time
CS wait pulse width
Output high impedance time from CS
fCLK
tCLHI
tCLLO
tRF
tCSS
tCSH
tDS
tDH
tCPH
tCHZ
16
16
10
10
5
5
25
30
20
15
MHz
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
Output data time from SCK
tV
10
15
ns
Output data hold time
HOLD setup time
HOLD hold time
Output low impedance time from HOLD
Output high impedance time from HOLD
WP setup time
WP hold time
tHO
tHS
tHH
tHLZ
tHHZ
tWPS
tWPH
1
7
3
20
20
9
9
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
Write status register time
Page programming cycle time
Small sector erase cycle time
Sector erase cycle time
Chip erase cycle time
tSRW
tPP
tSSE
tSE
tCHE
5
4.0
0.04
0.08
0.25
15
5.0
0.15
0.25
1.6
ms
ms
s
s
s
Power-down time
Power-down recovery time
Output low impedance time from SCK
tDP
tPRB
tCLZ
0
3
3
μ s
μ s
ns
AC Test Conditions
Input pulse level··············· 0V, 2.5V
Input rising/falling time···· 5ns
Input timing level············· 0.3VDD, 0.7VDD
Output timing level ·········· 1/2 × VDD
Output load ······················ 30pF
Note: As the test conditions for "typ," the measurements are conducted using 2.5V for VDD at room temperature.
No.A2097-17/21
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